插回损测试仪 光插回损仪 回损仪 插损回损测试仪 型号：ZRX-17447

产品概述：
  插回损测试仪（光插回损仪，回损仪，插损回损测试仪，光纤测试仪）是测试光纤连接器或者光纤接头的插入损耗(插损)、回波损耗(回损或者背向反射损耗)的仪器。内置稳定化光源、度光率计、插损测试仪和回波损耗测试仪为体的多能光通信测试仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损、回损测试以及稳定性测量。可以用于生产厂商器件检测、科研机构研究开发和程施维护的测试仪表。

(1)测试度

通过稳定的激光器，的微电子术和光检测术，结合前的软件术，使得仪器输出率稳定、检测速度快、测量范围宽、测试度。

(2)波长同步切换

在插损/回损模式下，光源与率计波长同步切换，不需分别设定波长。

(3)多种作模式

该测试仪表集成了回波损耗测试、插入损耗测试和光率测试。

(4)操作简单方便

回损/插损同步测量，无需按键切换，不合格颜色告警。

(5)中文彩屏显示，长期操作无疲劳感。

(6)具有通讯接口和开放的协议，通过脚踏开关保存并打印数据。

插入损耗
检测波长 850~1625nm
探头类型 InGaAs
探测面直径 2mm
测量范围（dBm） -80～+10
率不确定度 ≤±5%
显示分辨率 0.001
接口 FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm
回波损耗
检测波长 1310nm/1550nm
 
测试范围 0~75dB
测试度 < ±0.25dB
光源输出稳定性 ≤±0.03/15分钟，≤±0.06/8小时
接口 FC/APC
其他标
作电源(V) AC100～240(50/60Hz)
重量(Kg) 3.5